項(xiàng)目名稱

Leeb230

測(cè)頭類型

F1

測(cè)量原理

磁感應(yīng)

測(cè)量范圍

0 ~ 1250um

分辨率

0.1um

示值誤差

一點(diǎn)校準(zhǔn)

±（3%H+1）um

二點(diǎn)校準(zhǔn)

±[（1~3）%H+1]um

測(cè)試條件

最小曲率半徑

凸1.5mm  凹9mm

最小面積直徑

φ7mm

基本臨界厚度

0.5mm

工作環(huán)境

溫度

0 ~ 40℃

濕度

20% ~ 90%

電源

AAA堿性電池2節(jié)

電壓

3V

工作時(shí)間

100小時(shí)

外形尺寸

130*70*25 mm

重量

350g

外殼材質(zhì)

金屬外殼

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、F1探頭、堿性電池

可選配件

標(biāo)準(zhǔn)試片、探頭

PC通訊

有

探頭

F400

F1

F1/90

F10

N400

N1

CN02

測(cè)量原理

磁性

渦流

測(cè)量范圍（μm）

0～400

0～1250

0～10mm

0～400

0～12500

10～200

測(cè)量精度μm

一點(diǎn)校準(zhǔn)

±[(1～3)%H+0.7]

±（3%H+1）

±（3%H+10）

±（3%H+1）

±（3%H+1.5）

±(3%H+1)

二點(diǎn)校準(zhǔn)

±（1～3％H+0.7）

±[(1~3)%H+1]

±[(1～3)%H+10]

±[(1～3)%H+1]

±[(1～3)%H+1.5]

---

低限分辨率

0.1

0.1

1

0.1

0.1

1

最小曲率半徑(mm)

(凸)1

1.5

平直

10

1.5

3

僅為平面

最小面積直徑(mm)

￠3

￠7

￠40

￠4

￠5

￠7

基本臨界厚度(mm)

0.2

0.5

2

0.3

0.3

無(wú)限制